パネルレイアウト検証

パネルレイアウト全体のDRC/ERC/LVS/LPE検証をトータルにサポート

  • 階層処理によるトップパネル高速DRC/ERC/LVL検証
  • アレイ全体を対象に高速、高精度に検証

インタラクティブDRC/LVSツール

SX-Meister iDRC / iLVS

■サインオフ検証時間を短縮　－　検証・確認・修正がいつでも自在に！

  • レイアウト修正が容易なデバッグ環境
  • 入力・編集と連動したリアルタイムDRC
  • エニーアングルに対応した高精度DRC
  • 階層処理によるアレイ検証の高速化
  • 特殊な液晶デバイス認識にも対応したLVS
  • GUIを用いてデザインルールを容易に作成・編集可能
  • 他社検証ツールのルールインポート

詳細情報はこちら

FPD向けLVLツール

SX-Meister FineLVL

■レイアウトパターンの比較検証を強力に支援

  • 特定レイヤのパターン比較
  • 階層セル同士のパターン比較
  • 階層構造の一致性比較
  • 簡単なルール定義
  • 階層のフラット処理対応

FPD向けERCツール

SX-Meister FineERC

■配線のオープン、ショートチェックを強力に支援

  • ポリゴン図形を等電位追跡した検証
  • 階層処理による画素アレイ部の高速検証
  • 強力なショートパス検索
  • 簡単なルール定義

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