ProPlus Design Solutions主催によるウェハレベル低周波雑音測定技術webinarのご案内

お客様各位

2018年4月20日
株式会社ジーダット

ProPlus Design Solutions 主催による
ウェハレベル低周波雑音測定技術webinarのご案内

拝啓 時下益々ご清祥のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。
さてこのたび，弊社が日本の総代理店を務めている、ProPlus Design Solutions Inc.（以下「ProPlus社」が，下記の無料Webinarを開催いたします。ProPlus社Chairman 兼CEOのDr. Zhihong Liuが、30年以上にわたる半導体デバイスのflicker雑音測定技術と、主要な半導体会社で使用されている雑音測定システムとを開発してきた経験から、1/f雑音・flicker雑音をウェハレベルで測定する技術的な課題を解決するためのポイントや、測定システム、また技術的なソリューションについて講演いたします。

タイトル	Wafer-Level Low Frequency Noise Measurement Challenges and Solutions
日時	2018年5月4日 午前3:00（日本時間）～　（60分間の講演予定）
プレゼンター	ProPlus社Chairman 兼 CEO　　Dr. Zhihong Liu

ご視聴に際しては，下記Webサイトよりご登録いただく必要がございます。 あいにく日本からではリアルタイムでの聴講が困難な開催時間ではございますが、ご登録いただきますと終了後にご視聴いただくことができます。

お申し込みのご案内

Webinarご案内・登録は下記URLをご参照ください(IEEE Spectrumサイト)
https://spectrum.ieee.org/webinar/wafer-level-low-frequency-noise-measurement-challenges-and-solutions

お問い合わせ

株式会社ジーダット　営業技術本部　営業技術２部
TEL：03-6262-8402

以上